Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique.
Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera :
- Modeling the effect of oxidation on the residual tensile strength of SiC/C/SiC minicomposites in stressed oxidizing environments
Source : www.scopus.com – 2020-03-01
Lire la suite - GaN Systems Leads the Power Electronics Revolution at APEC 2020 – Yahoo Finance
Source : finance.yahoo.com – 2020-02-25
Lire la suite - Teledyne E2v HiRel And GaN Systems Unveil 100V GaN HEMT
Source : powerelectronicsworld.net – 2020-02-25
Lire la suite - Influence of Graphene Oxide on Interfacial Transition Zone of Mortar
Source : www.hindawi.com – 2020-02-19
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