Veille NAE : Fiabilité électronique 20210510
Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera : STMicroelectronics Introduces High-Performance GaN […]
NIGaMIL : l’Agence de l’innovation de défense s’allie avec UMS pour développer une filière européenne de Nitrure de Gallium
Les technologies à base de nitrure de gallium (GaN) ont fait ces dernières années l’objet d’études qui ont confirmé leur aptitude à apporter de véritables gains en puissance, compacité, efficacité, […]
Veille NAE : Fiabilité électronique 20210412
Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera : Solid-state power amplifier for […]
Webinaire « Présentation de la méthodologie de fiabilité prévisionnelle FIDES »
FIDES est une méthodologie de calcul de la fiabilité prévisionnelle des composants électroniques initiée en 2001. Le premier objectif de FIDES a été de développer une nouvelle méthodologie prenant en […]
Veille NAE : Fiabilité électronique 20210118
Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera : Highly Efficient SiC Power […]
Veille NAE : Fiabilité électronique 20201123
Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera : [tel-03001284] Réalisation et optimisation […]
Veille NAE : Fiabilité électronique 20201026
Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera : Toshiba lance un MOSFET […]
Veille NAE : Fiabilité électronique 20200928
Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité électronique qui abordera : NRTW – National Reliability […]
[eurosoi-ulis2020] EuroSOI-ULIS 2020 First Call, March 31 to April 2, 2020, Caen (Normandy, France)
Cette conférence vise à rassembler dans un forum interactif tous les scientifiques et ingénieurs travaillant dans le domaine de la technologie SOI et des dispositifs avancés à l’échelle nanométrique. L’un des […]
Veille NAE : Fiabilité 20191104
Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité qui abordera : Filtres CEM […]